吉峰電子：可靠性壽命試驗(yàn)的理論與應(yīng)用

2020年吉峰電子集成電路運(yùn)籌工程技術(shù)研討會(huì)（GFSeminar2020）已于2020年12月17日成功結(jié)束。

應(yīng)客戶的要求，PPT研討會(huì)現(xiàn)已分批舉辦。

本文是“可靠性壽命實(shí)驗(yàn)理論與應(yīng)用”：回顧2020年吉峰電子集成電路運(yùn)籌工程技術(shù)研討會(huì)（GFSeminar2020）的美好時(shí)光，請(qǐng)單擊此處：吉峰電子研討會(huì)2020成功舉行。

原標(biāo)題：吉峰電子研討會(huì)2020“可靠性”性生活實(shí)驗(yàn)理論與應(yīng)用文章來源：[微信公眾號(hào)：上海吉峰電子]歡迎大家關(guān)注！請(qǐng)指出轉(zhuǎn)載文章的來源。